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・資料No1_ 第十八改正日本薬局方第一追補（案）について (61 ページ)
出典
| 公開元URL | https://www.mhlw.go.jp/stf/shingi2/0000174942_00007.html |
| 出典情報 | 薬事・食品衛生審議会 日本薬局方部会（令和4年度第1回 7／26）《厚生労働省》 |
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2.22 蛍光光度法
新
2.22
蛍光光度法
旧
2.22
備考
蛍光光度法
現在主に使用さ
れている装置の
1. 装置
1. 装置
仕様を踏まえ、
通例，分光蛍光光度計を用いる．
通例，蛍光分光光度計を用いる．
「蛍光分光光度
光源としてはキセノンランプ，レーザー，アルカリハ
光源としてはキセノンランプ，レーザー，アルカリハ
計」の記載を「分
ライドランプなど励起光を安定に放射するものを用い
ライドランプなど励起光を安定に放射するものを用い
る．蛍光測定には，通例，層長1 cm×1 cmの四面透明で
る．蛍光測定には，通例，層長1 cm×1 cmの四面透明で
無蛍光の石英製セルを用いる．
無蛍光の石英製セルを用いる．
2. 操作法
2. 操作法
励起スペクトルは，分光蛍光光度計の蛍光波長を適切
励起スペクトルは，蛍光分光光度計の蛍光波長を適切
な波長に固定しておき，励起波長を変化させて試料溶液
な波長に固定しておき，励起波長を変化させて試料溶液
の蛍光強度を測定し，励起波長と蛍光強度との関係を示
の蛍光強度を測定し，励起波長と蛍光強度との関係を示
す曲線を描くことによって得られる．
す曲線を描くことによって得られる．
（略）
光蛍光光度計」
に変更する。
（略）
2.58 粉末 X 線回折測定法
新
2.58 粉末X線回折測定法
旧
備考
2.58 粉末X線回折測定法
日米欧三薬局方
で改正が合意さ
本試験法は，三薬局方での調和合意に基づき規定した試験法で
ある．
ある．
なお，三薬局方で調和されていない部分のうち，調和合意にお
いて，調和の対象とされた項中非調和となっている項の該当箇所
◆
は「
本試験法は，三薬局方での調和合意に基づき規定した試験法で
◆
」で，調和の対象とされた項以外に日本薬局方が独自に
規定することとした項は「
◇
◇
」で囲むことにより示す．
し、結晶相の定
なお，三薬局方で調和されていない部分は「
◆
◆
」で囲むこと
により示す．
三薬局方の調和合意に関する情報については，独立行政法人医
薬品医療機器総合機構のウェブサイトに掲載している．
三薬局方の調和合意に関する情報については，独立行政法人医
粉末X線回折測定法は，粉末試料にX線を照射し，そ
粉末X線回折測定法は，粉末試料にX線を照射し，そ
の物質中の電子を強制振動させることにより生じる干渉
性散乱X線による回折強度を，各回折角について測定する
性散乱X線による回折強度を，各回折角について測定する
方法である．
◇
方法である．
◆
化合物の全ての結晶相は特徴的なX線回折パターンを
化合物の全ての結晶相は特徴的なX線回折パターンを
示す．X線回折パターンは，微結晶(粒子内の結晶性領域)
示す．X線回折パターンは，微結晶又はある程度の大きさ
又はある程度の大きさの結晶片からなる無配向化した結
の結晶片からなる無配向化した結晶性粉末から得られ
晶性粉末から得られる．単位格子の種類と大きさに依存
る．単位格子の種類と大きさに依存した回折線の角度，
した回折線の角度，主として原子の種類と配列並びに試
主として原子の種類と配列並びに試料中の粒子配向に依
料中の選択配向に依存した回折線の強度，及び測定装置
存した回折線の強度，及び測定装置の解像力と微結晶の
の解像力と微結晶の大きさ，歪み及び試料の厚さに依存
大きさ，歪み及び試料の厚さに依存した回折線の形状の3
した回折線の形状の3種類の情報が，通例，X線回折パタ
種類の情報が，通例，X線回折パターンから得られる．
（略）
（略）
1. 原理
X線回折はX線と原子の電子雲との間の相互作用の結
下限値の記載を
見直すととも
に、全般的な用
う。
◆
の物質中の電子を強制振動させることにより生じる干渉
ーンから得られる．
量分析における
語の整備等を行
薬品医療機器総合機構のウェブサイトに掲載している．
◇
れた内容を反映
1. 原理
X線回折はX線と原子の電子雲との間の相互作用の結
果生じる．原子配列に依存して，弾性散乱X線に干渉が生
果生じる．原子配列に依存して，
散乱X線に干渉が生じる．
じる．（略）
（略）
粉末試料が多結晶の場合，いずれの角度θhkl においても
粉末試料は多結晶であり，いずれの角度θhklにおいても
ブラッグの法則で示される回折が可能となる方向を向い
ブラッグの法則で示される回折が可能となる方向を向い
ている微結晶が存在する2)．一定の波長のX線に対して，
ている微結晶が存在する2)．一定の波長のX線に対して，
回折ピーク(回折線，反射又はブラッグ反射とも呼ばれる)
回折ピーク(回折線，反射又はブラッグ反射とも呼ばれる)
の位置は結晶格子(d－間隔)の特性を示し，それらの理論
の位置は結晶格子(d－間隔)の特性を示し，それらの理論
60
新
2.22
蛍光光度法
旧
2.22
備考
蛍光光度法
現在主に使用さ
れている装置の
1. 装置
1. 装置
仕様を踏まえ、
通例，分光蛍光光度計を用いる．
通例，蛍光分光光度計を用いる．
「蛍光分光光度
光源としてはキセノンランプ，レーザー，アルカリハ
光源としてはキセノンランプ，レーザー，アルカリハ
計」の記載を「分
ライドランプなど励起光を安定に放射するものを用い
ライドランプなど励起光を安定に放射するものを用い
る．蛍光測定には，通例，層長1 cm×1 cmの四面透明で
る．蛍光測定には，通例，層長1 cm×1 cmの四面透明で
無蛍光の石英製セルを用いる．
無蛍光の石英製セルを用いる．
2. 操作法
2. 操作法
励起スペクトルは，分光蛍光光度計の蛍光波長を適切
励起スペクトルは，蛍光分光光度計の蛍光波長を適切
な波長に固定しておき，励起波長を変化させて試料溶液
な波長に固定しておき，励起波長を変化させて試料溶液
の蛍光強度を測定し，励起波長と蛍光強度との関係を示
の蛍光強度を測定し，励起波長と蛍光強度との関係を示
す曲線を描くことによって得られる．
す曲線を描くことによって得られる．
（略）
光蛍光光度計」
に変更する。
（略）
2.58 粉末 X 線回折測定法
新
2.58 粉末X線回折測定法
旧
備考
2.58 粉末X線回折測定法
日米欧三薬局方
で改正が合意さ
本試験法は，三薬局方での調和合意に基づき規定した試験法で
ある．
ある．
なお，三薬局方で調和されていない部分のうち，調和合意にお
いて，調和の対象とされた項中非調和となっている項の該当箇所
◆
は「
本試験法は，三薬局方での調和合意に基づき規定した試験法で
◆
」で，調和の対象とされた項以外に日本薬局方が独自に
規定することとした項は「
◇
◇
」で囲むことにより示す．
し、結晶相の定
なお，三薬局方で調和されていない部分は「
◆
◆
」で囲むこと
により示す．
三薬局方の調和合意に関する情報については，独立行政法人医
薬品医療機器総合機構のウェブサイトに掲載している．
三薬局方の調和合意に関する情報については，独立行政法人医
粉末X線回折測定法は，粉末試料にX線を照射し，そ
粉末X線回折測定法は，粉末試料にX線を照射し，そ
の物質中の電子を強制振動させることにより生じる干渉
性散乱X線による回折強度を，各回折角について測定する
性散乱X線による回折強度を，各回折角について測定する
方法である．
◇
方法である．
◆
化合物の全ての結晶相は特徴的なX線回折パターンを
化合物の全ての結晶相は特徴的なX線回折パターンを
示す．X線回折パターンは，微結晶(粒子内の結晶性領域)
示す．X線回折パターンは，微結晶又はある程度の大きさ
又はある程度の大きさの結晶片からなる無配向化した結
の結晶片からなる無配向化した結晶性粉末から得られ
晶性粉末から得られる．単位格子の種類と大きさに依存
る．単位格子の種類と大きさに依存した回折線の角度，
した回折線の角度，主として原子の種類と配列並びに試
主として原子の種類と配列並びに試料中の粒子配向に依
料中の選択配向に依存した回折線の強度，及び測定装置
存した回折線の強度，及び測定装置の解像力と微結晶の
の解像力と微結晶の大きさ，歪み及び試料の厚さに依存
大きさ，歪み及び試料の厚さに依存した回折線の形状の3
した回折線の形状の3種類の情報が，通例，X線回折パタ
種類の情報が，通例，X線回折パターンから得られる．
（略）
（略）
1. 原理
X線回折はX線と原子の電子雲との間の相互作用の結
下限値の記載を
見直すととも
に、全般的な用
う。
◆
の物質中の電子を強制振動させることにより生じる干渉
ーンから得られる．
量分析における
語の整備等を行
薬品医療機器総合機構のウェブサイトに掲載している．
◇
れた内容を反映
1. 原理
X線回折はX線と原子の電子雲との間の相互作用の結
果生じる．原子配列に依存して，弾性散乱X線に干渉が生
果生じる．原子配列に依存して，
散乱X線に干渉が生じる．
じる．（略）
（略）
粉末試料が多結晶の場合，いずれの角度θhkl においても
粉末試料は多結晶であり，いずれの角度θhklにおいても
ブラッグの法則で示される回折が可能となる方向を向い
ブラッグの法則で示される回折が可能となる方向を向い
ている微結晶が存在する2)．一定の波長のX線に対して，
ている微結晶が存在する2)．一定の波長のX線に対して，
回折ピーク(回折線，反射又はブラッグ反射とも呼ばれる)
回折ピーク(回折線，反射又はブラッグ反射とも呼ばれる)
の位置は結晶格子(d－間隔)の特性を示し，それらの理論
の位置は結晶格子(d－間隔)の特性を示し，それらの理論
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