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【資料1】日本薬局方部会について (60 ページ)

公開元URL https://www.mhlw.go.jp/stf/newpage_28006.html
出典情報 薬事・食品衛生審議会 薬事分科会(令和4年度第4回 9/16)《厚生労働省》
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2.22 蛍光光度法


2.22

蛍光光度法



2.22

備考

蛍光光度法

現在主に使用さ
れている装置の

1. 装置

1. 装置

仕様を踏まえ、

通例,分光蛍光光度計を用いる.

通例,蛍光分光光度計を用いる.

「蛍光分光光度

光源としてはキセノンランプ,レーザー,アルカリハ

光源としてはキセノンランプ,レーザー,アルカリハ

計」の記載を「分

ライドランプなど励起光を安定に放射するものを用い

ライドランプなど励起光を安定に放射するものを用い

る.蛍光測定には,通例,層長1 cm×1 cmの四面透明で

る.蛍光測定には,通例,層長1 cm×1 cmの四面透明で

無蛍光の石英製セルを用いる.

無蛍光の石英製セルを用いる.

2. 操作法

2. 操作法

励起スペクトルは,分光蛍光光度計の蛍光波長を適切

励起スペクトルは,蛍光分光光度計の蛍光波長を適切

な波長に固定しておき,励起波長を変化させて試料溶液

な波長に固定しておき,励起波長を変化させて試料溶液

の蛍光強度を測定し,励起波長と蛍光強度との関係を示

の蛍光強度を測定し,励起波長と蛍光強度との関係を示

す曲線を描くことによって得られる.

す曲線を描くことによって得られる.

(略)

光蛍光光度計」
に変更する。

(略)

2.58 粉末 X 線回折測定法


2.58 粉末X線回折測定法



備考

2.58 粉末X線回折測定法

日米欧三薬局方
で改正が合意さ

本試験法は,三薬局方での調和合意に基づき規定した試験法で
ある.

ある.

なお,三薬局方で調和されていない部分のうち,調和合意にお
いて,調和の対象とされた項中非調和となっている項の該当箇所


は「

本試験法は,三薬局方での調和合意に基づき規定した試験法で



」で,調和の対象とされた項以外に日本薬局方が独自に

規定することとした項は「




」で囲むことにより示す.

し、結晶相の定

なお,三薬局方で調和されていない部分は「




」で囲むこと

により示す.
三薬局方の調和合意に関する情報については,独立行政法人医
薬品医療機器総合機構のウェブサイトに掲載している.

三薬局方の調和合意に関する情報については,独立行政法人医

粉末X線回折測定法は,粉末試料にX線を照射し,そ

粉末X線回折測定法は,粉末試料にX線を照射し,そ

の物質中の電子を強制振動させることにより生じる干渉

性散乱X線による回折強度を,各回折角について測定する

性散乱X線による回折強度を,各回折角について測定する

方法である.


方法である.


化合物の全ての結晶相は特徴的なX線回折パターンを

化合物の全ての結晶相は特徴的なX線回折パターンを

示す.X線回折パターンは,微結晶(粒子内の結晶性領域)

示す.X線回折パターンは,微結晶又はある程度の大きさ

又はある程度の大きさの結晶片からなる無配向化した結

の結晶片からなる無配向化した結晶性粉末から得られ

晶性粉末から得られる.単位格子の種類と大きさに依存

る.単位格子の種類と大きさに依存した回折線の角度,

した回折線の角度,主として原子の種類と配列並びに試

主として原子の種類と配列並びに試料中の粒子配向に依

料中の選択配向に依存した回折線の強度,及び測定装置

存した回折線の強度,及び測定装置の解像力と微結晶の

の解像力と微結晶の大きさ,歪み及び試料の厚さに依存

大きさ,歪み及び試料の厚さに依存した回折線の形状の3

した回折線の形状の3種類の情報が,通例,X線回折パタ

種類の情報が,通例,X線回折パターンから得られる.
(略)

(略)
1. 原理
X線回折はX線と原子の電子雲との間の相互作用の結

下限値の記載を
見直すととも
に、全般的な用
う。



の物質中の電子を強制振動させることにより生じる干渉

ーンから得られる.

量分析における

語の整備等を行

薬品医療機器総合機構のウェブサイトに掲載している.


れた内容を反映

1. 原理
X線回折はX線と原子の電子雲との間の相互作用の結

果生じる.原子配列に依存して,弾性散乱X線に干渉が生

果生じる.原子配列に依存して,
散乱X線に干渉が生じる.

じる.(略)

(略)

粉末試料が多結晶の場合,いずれの角度θhkl においても

粉末試料は多結晶であり,いずれの角度θhklにおいても

ブラッグの法則で示される回折が可能となる方向を向い

ブラッグの法則で示される回折が可能となる方向を向い

ている微結晶が存在する2).一定の波長のX線に対して,

ている微結晶が存在する2).一定の波長のX線に対して,

回折ピーク(回折線,反射又はブラッグ反射とも呼ばれる)

回折ピーク(回折線,反射又はブラッグ反射とも呼ばれる)

の位置は結晶格子(d-間隔)の特性を示し,それらの理論

の位置は結晶格子(d-間隔)の特性を示し,それらの理論

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