WHOより公表されているデータ（2023年1月版）
Chapter

ClassKind

ChapterNO

Title

和訳案

BlockId
Code
X

category

XE5AS

Cause traced to maintenance

メンテナンスが原因

X

category

XE5UX

Cause traced to training

トレーニングが原因

X

category

XE674

Cause traced to labeling

ラベリングが原因

X

category

XE5BM

Cause cannot be traced to device

確認できない機器における原因

X

category

XE6LX

Cause traced to user

ユーザーが原因

X

category

XE0QB

Known inherent risk of device

機器固有の既知のリスク

X

category

XE8UG

Falsified device

偽造された機器

X

category

XE51D

No problem with device detected

機器の問題なし

X

category

XE2SY

Cause of problem with device not established

機器の問題の原因不明

X

category

XE0T3

Conclusion not yet available regarding problem with device

結論が得られていない機器の問題

X

block

ー

Findings of investigations related to devices

機器に関する調査所見

X

category

XE0WX

Biological problem with device identified

特定された機器の生物学的問題

X

category

XE5T0

Biocompatibility problem with device identified

特定された機器の生体適合性の問題

X

category

XE4YZ

Biological contamination of device

機器の生物学的汚染

X

category

XE7B7

Material or material leachate pyrogenic problem with device identified

特定された機器の材料又は材料浸出物の発熱性問題

X

category

XE2RY

Cytotoxicity problem with device identified

特定された機器の細胞傷害性の問題

X

category

XE2PA

Genotoxicity problem with device identified

特定された機器の遺伝毒性の問題

X

category

XE7AM

Hematological problem with device identified

特定された機器の血液学的問題

X

category

XE1Y9

Unintended presence of allergens in device identified

特定された機器でのアレルゲンの意図しない存在

X

category

XE2XW

Reproductive toxicity problem with device identified

特定された機器に関する生殖毒性の問題

X

category

XE4CB

Electrical problem with device identified

特定された機器の電気的問題

X

category

XE1YA

Electrical or electronic component problem with device identified

特定された機器の電気又は電子部品の問題

X

category

XE53K

Hardware timing problem with device identified

特定された機器のハードウェアタイミングの問題

X

category

XE546

Impedance problem with device identified

特定された機器のインピーダンスの問題

X

category

XE1TX

Insulation problem with device identified

特定された機器の絶縁の問題

X

category

XE4PP

Open circuit in device

機器の回路開放

X

category

XE2V6

Current leakage problem of device identified

特定された機器の漏電電流の問題

X

category

XE0KB

Power source problem identified in device

特定された機器の電源の問題

X

category

XE4ZM

Energy storage system problem in device

機器のエネルギー貯蔵システムの問題

X

category

XE2WJ

Loss of power to device

機器の電源喪失

X

category

XE7RB

Power fluctuation in device

機器の電力変動

X

category

XE7AB

Short circuit of device

機器の短絡

X

category

XE8KR

Signal loss of device

機器の信号損失

X

category

XE6AQ

Electromagnetic compatibility problem with device identified

特定された機器の電磁両立性の問題

X

category

XE6BD

Conducted interference with device

機器の伝導妨害

X

category

XE8P9

Electrostatic discharge of device

機器の静電放電

X

category

XE2ME

Inadequate immunity of device

機器の不十分な電磁波耐性

X

category

XE8TZ

Unintended emission of device

機器の意図しない放射

X

category

XE1LT

Radiofrequency interference with device identified

特定された機器の無線周波妨害

X

category

XE02N

Interoperability problem with device identified

特定された機器との相互運用性の問題

X

category

XE6C8

Communications problem with device identified

特定された機器との通信の問題

X

category

XE22K

Wired communication problem with device identified

特定された機器との有線通信の問題

X

category

XE1PD

Wireless communication problem with device identified

特定された機器との無線通信の問題

X

category

XE5NA

Network communication problem with device identified

特定された機器とのネットワーク通信の問題

X

category

XE1SP

Incompatible component or accessory of device identified

特定された機器の不適合な構成要素又は付属品

X

category

XE1YT

Labeling and instructions for use or maintenance of device problem identified

特定された機器の使用又はメンテナンスに関するラベル表示及び説明書の問題

X

category

XE3PV

Inadequate labelling or instructions for use of device identified

特定された機器の使用に関する不適切なラベル表示又は説明書

X

category

XE4MR

Incorrect labelling or instructions for use of device identified

特定された機器の使用に関する誤ったラベル表示又は説明書

X

category

XE7Y7

Inadequate or incorrect instructions for maintenance of device identified

特定された機器のメンテナンスに関する不適切又は不正確な指示

X

category

XE3RW

Material or chemical problem with device identified

特定された機器の材料の問題又は化学的問題

X

category

XE2H0

Degradation problem identified with device

機器で特定された劣化の問題

X

category

XE2WT

Inappropriate material identified in device

機器で特定された不適切な材料

X

category

XE60T

Inadequate physicochemical properties identified in device

機器で特定された不適切な物理化学的特性

X

category

XE4EB

Incompatible material identified in device

機器で特定された不適合材料

X

category

XE25Z

Reactivity problem identified with device

機器で特定された反応性の問題

X

category

XE6U0

Tolerance stack-up identified in device

機器で特定された許容値への到達

X

category

XE640

Mechanical problem with device identified

特定された機器の機械的問題

X

category

XE8RU

Device migration identified

特定された機器の移動

X

category

XE3HZ

Friction problem identified with device

機器で特定された摩擦の問題

X

category

XE1P8

Leakage or seal problem identified with device

機器で特定された漏れ又は密閉の問題

X

category

XE6UT

Lubrication problem identified with device

機器で特定された潤滑の問題

X

category

XE69Q

Stiffness problem identified with device

機器で特定された剛性の問題

X

category

XE8V5

Stress problem with device identified

特定された機器の応力の問題

X

category

XE0WG

Deformation problem with device identified

特定された機器の変形の問題

X

category

XE3Y4

Fatigue problem with device identified

特定された機器の疲労の問題

X

category

XE1ZP

Fracture problem with device identified

特定された機器の破損の問題

X

category

XE1UJ

Mechanical shock problem with device identified

特定された機器の機械的衝撃の問題

X

category

XE1H3

Vibration problem with device identified

特定された機器の振動の問題

X

category

XE1ZQ

Wear problem with device identified

特定された機器の摩耗の問題

X

category

XE1EJ

Incorrect dimension of device identified

特定された機器の不正確な寸法

X

category

XE4KN

Optical problem with device identified

特定された機器の光学的問題

X

category

XE42B

Optical transmission problem identified with device

機器で確認された光伝送の問題

X

category

XE8XT

Light source problem identified with device

機器で確認された光源の問題

X

category

XE05W

Clinical imaging problem with device identified

特定された機器の臨床画像撮影の問題

X

category

XE15N

Gradient induced field problem with device identified

特定された機器の磁場勾配誘起の問題

X

category

XE1HK

Image artifact identified in device

機器で特定された画像アーチファクト

X

category

XE6YW

Magnetically-induced movement of device identified

特定された磁気による機器の移動

X

category

XE9Y9

Radiofrequency induced overheating of device identified

特定された高周波による機器の過熱

X

category

XE6TE

Software problem with device identified

特定された機器のソフトウェアの問題

X

category

XE77W

Configuration issue of device identified

特定された機器の構成上の問題

X

category

XE6DT

Design error of device identified

特定された機器の設計ミス

X

category

XE006

Data compression error in device identified

特定された機器のデータ圧縮エラー

X

category

XE62E

Incorrect algorithm in device identified

特定された機器のアルゴリズムの誤り

X

category

XE1X4

Incorrect data definition in device identified

特定された機器のデータ定義の誤り

X

category

XE2FL

Interface design error of device identified

特定された機器のインターフェース設計のミス

X

category

XE85U

Non-functional defect in device identified

特定された機器の機能以外の欠陥